北京眾星聯恒科技有限公司
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射頻輝光放電質譜儀 Autoconcept GD90-RF
公司介紹： 英國質譜儀器有限公司（MSI）是一家專業(yè)性很強的公司，專門從事高性能磁性行業(yè)雙聚焦質譜儀的設計，旨在滿足有機和無機分析市場的需求。 它繼承了Kratos Analytical的技術，該技術是1957年引入商業(yè)質譜儀的。從那時起，對高精度，高分辨率儀器的需求呈指數增長。 在MSI，我們通過投資于新的開發(fā)和應用，正在將這項技術提升到新的水平方面取得了巨大的進步。 產品介紹： 輝光放電質譜儀主要由三部分構成：輝光放電離子源、質量分析器、檢測器。另外還包括一些輔助系統(tǒng)，如真空系統(tǒng)、離子光學系統(tǒng)、電學系統(tǒng)和數據采集控制系統(tǒng)等。 而Autoconcept GD90-RF具有靈活的雙離子源系統(tǒng)：直流源（DC）和射頻源（RF）。GD90-RF離子源包含直流源和射頻源，切換簡單方便，可以直接分析不同尺寸的塊狀、針狀及粉末樣品。高電離閾值材料離子源室，有效避免電離時帶來的污染。 DC直流源系統(tǒng) RF射頻源系統(tǒng) RF射頻源可直接分析導體、半導體或絕緣體的固體樣品 · 低功率RF模式--深度剖析應用 · 中功率RF模式--易碎樣品應用 · 高功率RF模式--痕量分析 Cu63 D.C Mode 峰高 : · 1.35 x10-9 A · 1.35V · 8.4 x 109 cps Cu63 RF Mode 峰高 · 2.4 X 10-9 A · 2.5V · 1.5 x 1010 cps AutoConcept GD90-RF的主要特性： 對塊狀、針狀或粉末狀的導體或非導體樣品進行直接分析； 高分辨率，特別是對于有干擾離子存在的測定而言十分重要； 廣泛的元素涵蓋范圍，軟件中包括70個元素相關的干擾離子數據； 由于原子化和離子化過程發(fā)生在不同區(qū)域，帶來可忽略的基體效應； 低至亞ppb級的檢測限； 具有深度剖析能力； 極少的樣品制備過程。
Autoconcept GD90-RF是一個專為高精度元素分析所設計的高分辨輝光放電質譜儀。此輝光放電質譜儀（GDMS）提供了固體金屬與絕緣體的直接分析檢測。它具有非常寬的元素覆蓋范圍，可得到超過70種元素的有效數據，靈敏度高，輕元素重元素均可。GDMS技術使原子化（碎片化）過程與離子化過程分開進行，故而可容易的對ppb至ppt級別的痕量雜質進行測量。此法還使得GDMS技術擁有極小的基體效應且無須特定參照材料。它可對金屬與合金進行全掃描分析，可對半導體進行整體的測量分析，可對多層結構與鍍層進行深度剖析。是包括金屬、合金、半導體以及絕緣體等高純材料的生產與質量控制的理想工具。
DC直流源可直接分析導體樣品， 或者通過混合法或第二陰極法分析半導體和非導體樣品。 
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