:產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

美國(guó) NANOVEA 公司是一家的在微納米尺度上的光學(xué)表面形貌測(cè)測(cè)量技術(shù)的，生產(chǎn)的三維非接觸式表面形貌儀是目前國(guó)際上用在科學(xué)研究和 工業(yè)領(lǐng)域表面輪廓測(cè)量設(shè)備之一，采用目前國(guó)際最前端的白光軸向色差原 理(性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀)對(duì)樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高分辨率的測(cè)試分析，通過專業(yè)的三維分析軟件可得到樣品表面的任意參數(shù)， 例如:二維高度曲線分布圖，二維等高線分布圖，三維表面形貌圖、孔的深度， 孔的寬度，孔的面積，孔的體積，臺(tái)階高度、一維線粗糙度參數(shù)、二維線粗糙度 參數(shù)，樣品的波紋度、功率譜密度，表面高度分層統(tǒng)計(jì)，自相關(guān)統(tǒng)計(jì)等表面參數(shù)的測(cè)量。

◎ 利用白光點(diǎn)光源，光線穿過透鏡后產(chǎn)生色差，不同波長(zhǎng)的光分開后入射到被測(cè)樣品上。

◎ 根據(jù)準(zhǔn)共聚焦原理，探測(cè)器系統(tǒng)只能接收到被測(cè)物體上單點(diǎn)反射回來的 特定波長(zhǎng)的光，從而得到這個(gè)點(diǎn)距離透鏡的垂直距離。

◎ 這個(gè)點(diǎn)為點(diǎn)光源與傳感器所在的直線的中垂線與樣品的交點(diǎn)。

◎ 再通過點(diǎn)掃描的方式可得到一條線上的坐標(biāo)，即 X-Z 坐標(biāo)

◎ 最后以 S 路徑獲得物體??個(gè)點(diǎn)的三維 X-Y-Z 坐標(biāo)

◎  最后將采集的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)交給專業(yè)的三維處理軟件進(jìn)行各種表面參數(shù)的分析

◎  軟件能夠自動(dòng)獲取用戶關(guān)心的表面形貌參數(shù)。

第四:三維專業(yè)軟件分析

1、 可創(chuàng)建任意區(qū)域的 2D 曲線圖或 2D 等高線分布圖;

2、 可創(chuàng)建任意區(qū)域的 3D 圖;

3、 自動(dòng)得到樣品的一維線粗糙度參數(shù)(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku);

4、 自動(dòng)得到樣品的二維面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku);

5、 可得到樣品的平整度，波紋度等參數(shù);

6、 自動(dòng)校準(zhǔn)功能，例如粗糙度，一般情況下對(duì)于曲面樣品，首先展平，然后自動(dòng)給出粗糙度的參數(shù);

7、 具有尺寸測(cè)??:長(zhǎng)度，寬度，角度，深度 

8、 可測(cè)孔洞磨損面積，磨損體積等參數(shù); 

9、 利用計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)程控制;

10、  具有功率譜密度測(cè)試功能;

11、  具有分形統(tǒng)計(jì)功能;

12、  多種格式的圖與數(shù)據(jù)輸出。