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美國easyXAFS公司推出臺式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀，采用的X射線單色器設(shè)計，無需同步輻射光源，在常規(guī)實(shí)驗室環(huán)境中實(shí)現(xiàn)X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測量和分析，以超高靈敏度和光源質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)對元素的測定、價態(tài)和配位結(jié)構(gòu)分析等。此外，該設(shè)備還能夠進(jìn)行X射線發(fā)射譜測試(XES)，該表征本質(zhì)上是超高能量分辨率的X射線熒光光譜(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以對樣品的局部電子結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)信息互補(bǔ)。廣泛應(yīng)用于電池、催化劑、環(huán)境、放射性化學(xué)、地質(zhì)、陶瓷等研究領(lǐng)域。
XAFS/XES 設(shè)備特點(diǎn)
- 無需同步輻射光源
- 科研級別譜圖效果
- 臺式設(shè)計，實(shí)驗室內(nèi)使用
- 可外接儀器設(shè)備，控制樣品條件
- 可實(shí)現(xiàn)多個樣品或多種條件測試
- 操作便捷、維護(hù)成本低
