日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡，實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

詳細(xì)介紹

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

JEM-ARM300F 實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

產(chǎn)品規(guī)格：

分辨率	300 kV，80 kV
物鏡種類※1	UHR極靴	HR極靴
STEM分辨率（300kV）使用STEM校正器	0.058nm	0.063nm
TEM分辨率（300 kV）	線分辨率0.05nm	線分辨率0.06nm
使用TEM校正器	非線性信息分辨極限0.06nm	非線性信息分辨極限0.07nm
使用TEM校正器	線性信息分辨極限0.09nm	線性信息分辨極限0.12nm

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率

· JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

· STEM-HAADF像的保證分辨率達(dá)到了的58pm

· 采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達(dá)58pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時）。

· ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器　※選配件

· ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發(fā)的擴(kuò)展軌道型12極球差校正器?？梢栽谟脩衄F(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

· 強(qiáng)大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300

· 標(biāo)配了全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

· 兩種物鏡極靴

· 為了支持用戶廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點(diǎn)的物鏡極靴。

· 豐富的選購件

· 能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。

· 大范圍的加速電壓設(shè)置

· 標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。

· 新開發(fā)的真空系統(tǒng)

· 新的排氣系統(tǒng)達(dá)到了的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，限度地減輕了對樣品的污染和損傷。

· 高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺

· 整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機(jī)械剛度，在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上，把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗力提高到新高度。

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